HIOKI IM3536 LCR測試儀 回收

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HIOKI這次發(fā)售了LCR測試儀IM3536。IM3536具備4Hz~8MHz寬頻率范圍，實現(xiàn)高速、高精度測量。滿足電子元件的研發(fā)和生產(chǎn)等多種領(lǐng)域的要求。

LCR測試儀IM3536的特點

測量頻率4Hz~8MHz，精度保證范圍1mΩ和測量范圍擴大

以往產(chǎn)品（3532-50）的測量帶寬為42Hz~5Mhz，而IM3536的帶寬擴大到了4Hz~8MHz。因此，可以測量用于各種領(lǐng)域中的電子元件的特性。特別是，高頻率8MHz適用于高頻化的電源用電感的測量。

而且，精度保證范圍比起以往產(chǎn)品10mΩ以上，IM3536的精度保證為1mΩ以上，因此也適用于有低頻化要求的電容等的測量。

和以往產(chǎn)品相比，實現(xiàn)高速、高精度測量

IM3536和以往產(chǎn)品相比改善了測量時間和基本精度。

比起以往產(chǎn)品的測量時間為5ms（0.005秒），IM3536是1ms（0.001秒），測量速度提高了4倍。因此，用于電子元件的產(chǎn)線中時，有助于提高產(chǎn)量。

而且，相對于以往產(chǎn)品的基本精度（代表值）0.08%，IM3536為0.05%，因此適用于有高精度要求的電子元件。

連續(xù)測量功能，1臺即可完成不同條件的檢查

在電子元件的評估中，有時會需要對1個電子元件需要按照不同條件和項目來測量。以往產(chǎn)品因為測量條件的切換時間和測量時間較慢，所以這類多種條件檢查會需要多臺測量儀器。

IM3536的測量條件的切換和測量實現(xiàn)了高速化，而且IM3536具備連續(xù)測量功能（不同測量項目連續(xù)測量的功能），因此1臺IM3536就可以完成以前多臺測量儀器才能完成的測量。 這樣，可以簡化產(chǎn)線中所用自動檢查機的結(jié)構(gòu)，從而實現(xiàn)低價化。

具備提高檢查品質(zhì)的接觸檢查功能

檢查時，發(fā)生測試探頭的斷線、和被測物的接觸不良時，可能存在測量誤差變大等影響測量值準確性的現(xiàn)象。為了防止此類事情，標配了能夠知道測試探頭斷線和接觸不良的接觸檢查功能。由此有助于提高檢查的品質(zhì)。